Hlavní stránka>18/30381548 DC BS EN 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET) Part 1. Fast BTI Test method
Sponsored link
sklademVydáno: 2018-08-03
18/30381548 DC
BS EN 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET) Part 1. Fast BTI Test method
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
Označení normy:
18/30381548 DC
Počet stran:
17
Vydáno:
2018-08-03
Status:
Draft for Comment
Popis
18/30381548 DC
This standard 18/30381548 DC BS EN 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET) is classified in these ICS categories:
