Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>24/30486622 DC BS EN IEC 62047-49. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 49. Reliability test methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever
Sponsored link
sklademVydáno: 2024-02-01
24/30486622 DC BS EN IEC 62047-49. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 49. Reliability test methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever

24/30486622 DC

BS EN IEC 62047-49. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 49. Reliability test methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
Označení normy:24/30486622 DC
Počet stran:11
Vydáno:2024-02-01
Status:Draft for Comment
Popis

24/30486622 DC


This standard 24/30486622 DC BS EN IEC 62047-49. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices is classified in these ICS categories:
  • 31.080 Semiconductor devices
  • 31.080.99 Other semiconductor devices