Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>24/30497538 DC BS EN IEC 60749-7 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 7. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Sponsored link
sklademVydáno: 2024-09-06
24/30497538 DC BS EN IEC 60749-7 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 7. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

24/30497538 DC

BS EN IEC 60749-7 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 7. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
Označení normy:24/30497538 DC
Počet stran:14
Vydáno:2024-09-06
Status:Draft for Comment
Popis

24/30497538 DC


This standard 24/30497538 DC BS EN IEC 60749-7 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods is classified in these ICS categories:
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general

Tisk