Hlavní stránka>24/30500239 DC BS EN IEC 62047-52 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 52. Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS
Sponsored link
sklademVydáno: 2024-09-13
24/30500239 DC
BS EN IEC 62047-52 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 52. Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
620 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
620 Kč
Označení normy:
24/30500239 DC
Počet stran:
15
Vydáno:
2024-09-13
Status:
Draft for Comment
Popis
24/30500239 DC
This standard 24/30500239 DC BS EN IEC 62047-52 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices is classified in these ICS categories:
