Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN 60749-22:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Bond strength
Sponsored link
sklademVydáno: 2003-07-04
BS EN 60749-22:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Bond strength

BS EN 60749-22:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Bond strength

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6448 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
644.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1934.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6448 Kč
Označení normy:BS EN 60749-22:2003
Počet stran:24
Vydáno:2003-07-04
ISBN:0 580 42199 6
Status:Standard
Popis

BS EN 60749-22:2003


This standard BS EN 60749-22:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods is classified in these ICS categories:
  • 29.100.10 Magnetic components
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test measures bond strength or determine compliance with specified bond strength requirements. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.
Tisk