Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN 60749-8:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Sealing
Sponsored link
sklademVydáno: 2003-07-03
BS EN 60749-8:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Sealing

BS EN 60749-8:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Sealing

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
Označení normy:BS EN 60749-8:2003
Počet stran:20
Vydáno:2003-07-03
ISBN:0 580 42201 1
Status:Standard
Popis

BS EN 60749-8:2003


This standard BS EN 60749-8:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods is classified in these ICS categories:
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices. The contents of the corrigenda of April 2003 and August 2003 have been included in this copy.
Tisk