Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN 62047-21:2014 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
sklademVydáno: 2014-10-31
BS EN 62047-21:2014 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials

BS EN 62047-21:2014

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
450.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1350.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
Označení normy:BS EN 62047-21:2014
Počet stran:18
Vydáno:2014-10-31
ISBN:978 0 580 77554 3
Status:Standard
Popis

BS EN 62047-21:2014


This standard BS EN 62047-21:2014 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices is classified in these ICS categories:
  • 31.080.99 Other semiconductor devices

This part of IEC 62047 specifies the determination of Poisson's ratio from the test results obtained by the application of uniaxial and biaxial loads to thin-film micro-electromechanical systems (MEMS) materials with lengths and widths less than 10 mm and thicknesses less than 10 μm.


Tisk