Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN 62373:2006 Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Sponsored link
sklademVydáno: 2006-09-29
BS EN 62373:2006 Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

BS EN 62373:2006

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4650 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
465.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1395.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4650 Kč
Označení normy:BS EN 62373:2006
Počet stran:16
Vydáno:2006-09-29
ISBN:0 580 49255 9
Status:Standard
Popis

BS EN 62373:2006


This standard BS EN 62373:2006 Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) is classified in these ICS categories:
  • 31.080.30 Transistors
Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Tisk