Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN 62374-1:2010 Semiconductor devices Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Sponsored link
sklademVydáno: 2011-06-30
BS EN 62374-1:2010 Semiconductor devices Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

BS EN 62374-1:2010

Semiconductor devices Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
489.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1469.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
Označení normy:BS EN 62374-1:2010
Počet stran:20
Vydáno:2011-06-30
ISBN:978 0 580 75206 3
Status:Standard
Popis

BS EN 62374-1:2010


This standard BS EN 62374-1:2010 Semiconductor devices is classified in these ICS categories:
  • 43.040.20 Lighting, signalling and warning devices
  • 29.140.20 Incandescent lamps
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general

This part of IEC 62374 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices.


Tisk