Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN 62374:2007 Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Sponsored link
sklademVydáno: 2008-10-31
BS EN 62374:2007 Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

BS EN 62374:2007

Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
682.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
2046.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
Označení normy:BS EN 62374:2007
Počet stran:24
Vydáno:2008-10-31
ISBN:978 0 580 54048 6
Status:Standard
Popis

BS EN 62374:2007


This standard BS EN 62374:2007 Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films is classified in these ICS categories:
  • 31.080.99 Other semiconductor devices
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general
Provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure
Tisk