Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN 62415:2010 Semiconductor devices. Constant current electromigration test
Sponsored link
sklademVydáno: 2010-07-31
BS EN 62415:2010 Semiconductor devices. Constant current electromigration test

BS EN 62415:2010

Semiconductor devices. Constant current electromigration test

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
390.60 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1171.80 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
Označení normy:BS EN 62415:2010
Počet stran:14
Vydáno:2010-07-31
ISBN:978 0 580 61882 6
Status:Standard
Popis

BS EN 62415:2010


This standard BS EN 62415:2010 Semiconductor devices. Constant current electromigration test is classified in these ICS categories:
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general

This standard describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.


Tisk