Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.
Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>
BS EN 62415:2010 Semiconductor devices. Constant current electromigration test sklademVydáno: 2010-07-31
BS EN 62415:2010
Semiconductor devices. Constant current electromigration test
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normyna 1 hodinu
415.40 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normyna 24 hodin
1246.20 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
| Označení normy: | BS EN 62415:2010 |
| Počet stran: | 14 |
| Vydáno: | 2010-07-31 |
| ISBN: | 978 0 580 61882 6 |
| Status: | Standard |
Popis
BS EN 62415:2010
This standard BS EN 62415:2010 Semiconductor devices. Constant current electromigration test is classified in these ICS categories:
- 31.080.01 Semiconductor devices in general
This standard describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.
