Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN 62416:2010 Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors
Sponsored link
sklademVydáno: 2010-07-31
BS EN 62416:2010 Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors

BS EN 62416:2010

Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4154 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
415.40 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1246.20 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4154 Kč
Označení normy:BS EN 62416:2010
Počet stran:14
Vydáno:2010-07-31
ISBN:978 0 580 58621 7
Status:Standard
Popis

BS EN 62416:2010


This standard BS EN 62416:2010 Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors is classified in these ICS categories:
  • 31.080.30 Transistors

This standard describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.


Tisk