Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN 62878-1-1:2015 Device embedded substrate Generic specification. Test methods
Sponsored link
sklademVydáno: 2015-07-31
BS EN 62878-1-1:2015 Device embedded substrate Generic specification. Test methods

BS EN 62878-1-1:2015

Device embedded substrate Generic specification. Test methods

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8990 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
899.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
2697.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8990 Kč
Označení normy:BS EN 62878-1-1:2015
Počet stran:62
Vydáno:2015-07-31
ISBN:978 0 580 82122 6
Status:Standard
Popis

BS EN 62878-1-1:2015


This standard BS EN 62878-1-1:2015 Device embedded substrate is classified in these ICS categories:
  • 31.180 Printed circuits and boards
  • 31.190 Electronic component assemblies
IEC 62878-1-1:2015 specifies the test methods of passive and active device embedded substrates. The basic test methods of printed wiring substrate materials and substrates themselves are specified in IEC 61189-3. This part of IEC 62878 is applicable to device embedded substrates fabricated by use of organic base material, which include for example active or passive devices, discrete components formed in the fabrication process of electronic wiring board, and sheet formed components.
Tisk