Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN IEC 60749-12:2018 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency
Sponsored link
sklademVydáno: 2018-04-18
BS EN IEC 60749-12:2018 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency

BS EN IEC 60749-12:2018

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3906 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
390.60 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1171.80 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3906 Kč
Označení normy:BS EN IEC 60749-12:2018
Počet stran:12
Vydáno:2018-04-18
ISBN:978 0 580 98682 6
Status:Standard
Popis

BS EN IEC 60749-12:2018


This standard BS EN IEC 60749-12:2018 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods is classified in these ICS categories:
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general

This part of IEC 60749 describes a test to determine the effect of variable frequency vibration, within the specified frequency range, on internal structural elements. This is a destructive test. It is normally applicable to cavity-type packages.

NOTE This test method describes a swept sine test. A random vibration test is described in JEDEC document JESD 22-B103.


Tisk