Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN IEC 60749-26:2018 - TC Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
Sponsored link
sklademVydáno: 2020-02-27
BS EN IEC 60749-26:2018 - TC Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)

BS EN IEC 60749-26:2018 - TC

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
12586 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
12586 Kč
Označení normy:BS EN IEC 60749-26:2018 - TC
Vydáno:2020-02-27
ISBN:978 0 539 11726 4
Status:Tracked Changes
Popis

BS EN IEC 60749-26:2018 - TC


This standard BS EN IEC 60749-26:2018 - TC Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods is classified in these ICS categories:
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general

Tisk