Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN IEC 63287-2:2023 Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans Concept of mission profile
sklademVydáno: 2023-05-23
BS EN IEC 63287-2:2023 Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans Concept of mission profile

BS EN IEC 63287-2:2023

Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans Concept of mission profile

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
450.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1350.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
Označení normy:BS EN IEC 63287-2:2023
Počet stran:22
Vydáno:2023-05-23
ISBN:978 0 539 15664 5
Status:Standard
Popis

BS EN IEC 63287-2:2023


This standard BS EN IEC 63287-2:2023 Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans is classified in these ICS categories:
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general
  • 31.080.99 Other semiconductor devices
This part of IEC 63287 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the concept of mission profile, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications.
Tisk