Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS IEC 62047-32:2019 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators
Sponsored link
sklademVydáno: 2019-01-29
BS IEC 62047-32:2019 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators

BS IEC 62047-32:2019

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
489.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1469.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
Označení normy:BS IEC 62047-32:2019
Počet stran:22
Vydáno:2019-01-29
ISBN:978 0 580 97389 5
Status:Standard
Popis

BS IEC 62047-32:2019


This standard BS IEC 62047-32:2019 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices is classified in these ICS categories:
  • 31.080.99 Other semiconductor devices

This part of IEC 62047 specifies the test method and test condition for the nonlinear vibration of MEMS resonators. The statements made in this document apply to the development and manufacture for MEMS resonators.


Tisk