Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS IEC 62047-43:2024 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
Sponsored link
sklademVydáno: 2024-03-22
BS IEC 62047-43:2024 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices

BS IEC 62047-43:2024

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
489.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1469.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
Označení normy:BS IEC 62047-43:2024
Počet stran:22
Vydáno:2024-03-22
ISBN:978 0 539 17665 0
Status:Standard
Popis

BS IEC 62047-43:2024


This standard BS IEC 62047-43:2024 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices is classified in these ICS categories:
  • 31.080.99 Other semiconductor devices

Tisk