Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS IEC 62526:2007 Standard for extensions to standard test interface language (STIL) for semiconductor design environments
Sponsored link
sklademVydáno: 2007-12-31
BS IEC 62526:2007 Standard for extensions to standard test interface language (STIL) for semiconductor design environments

BS IEC 62526:2007

Standard for extensions to standard test interface language (STIL) for semiconductor design environments

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10230 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
1023.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
3069.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10230 Kč
Označení normy:BS IEC 62526:2007
Počet stran:124
Vydáno:2007-12-31
ISBN:978 0 580 59314 7
Status:Standard
Popis

BS IEC 62526:2007


This standard BS IEC 62526:2007 Standard for extensions to standard test interface language (STIL) for semiconductor design environments is classified in these ICS categories:
  • 25.040.01 Industrial automation systems in general
  • 35.060 Languages used in information technology
Provides an interface between digital test generation tools and test equipment. A test description language is defined that:(a) facilitates the transfer of digital test vector data from CAE to ATE environments;(b) specifies patten, format, and timing information sufficant to define the application of digital test vectors to a DUT;and (c) supports the volume of test vector data generated from structured tests.
Tisk