Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS IEC 62528:2007 Standard testability method for embedded core-based integrated circuits
sklademVydáno: 2007-12-31
BS IEC 62528:2007 Standard testability method for embedded core-based integrated circuits

BS IEC 62528:2007

Standard testability method for embedded core-based integrated circuits

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9420 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
942.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
2826.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9420 Kč
Označení normy:BS IEC 62528:2007
Počet stran:126
Vydáno:2007-12-31
ISBN:978 0 580 59318 5
Status:Standard
Popis

BS IEC 62528:2007


This standard BS IEC 62528:2007 Standard testability method for embedded core-based integrated circuits is classified in these ICS categories:
  • 31.200 Integrated circuits. Microelectronics
Defines a mechanism for the test of core designs within a system on chip (SoC).This mechanism constitutes a hardware architecture and leverages the core test language (CTL)to faciliate communication between core designers and core integrators.