Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS IEC 62899-503-1:2020 Printed electronics Quality assessment. Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
Sponsored link
sklademVydáno: 2020-09-25
BS IEC 62899-503-1:2020 Printed electronics Quality assessment. Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor

BS IEC 62899-503-1:2020

Printed electronics Quality assessment. Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
489.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1469.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
Označení normy:BS IEC 62899-503-1:2020
Počet stran:18
Vydáno:2020-09-25
ISBN:978 0 580 97380 2
Status:Standard
Popis

BS IEC 62899-503-1:2020


This standard BS IEC 62899-503-1:2020 Printed electronics is classified in these ICS categories:
  • 29.045 Semiconducting materials
  • 31.080.30 Transistors
IEC 62899-503-1:2020(E) specifies a test method for displacement current measurement (DCM) for printed thin film transistors (TFTs) or organic thin film transistors (OTFTs).
Tisk