Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS IEC 63003:2015 Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505<sup>TM</sup>
Sponsored link
sklademVydáno: 2016-01-31
BS IEC 63003:2015 Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505<sup>TM</sup>

BS IEC 63003:2015

Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505<sup>TM</sup>

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10230 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
1023.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
3069.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10230 Kč
Označení normy:BS IEC 63003:2015
Počet stran:174
Vydáno:2016-01-31
ISBN:978 0 580 91106 4
Status:Standard
Popis

BS IEC 63003:2015


This standard BS IEC 63003:2015 Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505TM is classified in these ICS categories:
  • 25.040.01 Industrial automation systems in general

The scope of this standard is the definition of a pin map utilizing the IEEE 1505™ 1 receiver fixture interface (RFI). The pin map defined within this standard shall apply to military and aerospace automatic test equipment (ATE) testing applications.


Tisk