Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS IEC 63284:2022 Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
Sponsored link
sklademVydáno: 2022-11-11
BS IEC 63284:2022 Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors

BS IEC 63284:2022

Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4898 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
489.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1469.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4898 Kč
Označení normy:BS IEC 63284:2022
Počet stran:16
Vydáno:2022-11-11
ISBN:978 0 539 12643 3
Status:Standard
Popis

BS IEC 63284:2022


This standard BS IEC 63284:2022 Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors is classified in these ICS categories:
  • 31.080.30 Transistors
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general
  • 31.080.99 Other semiconductor devices

Tisk