Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS ISO 14606:2022 Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
Sponsored link
sklademVydáno: 2023-02-15
BS ISO 14606:2022 Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials

BS ISO 14606:2022

Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
Označení normy:BS ISO 14606:2022
Počet stran:26
Vydáno:2023-02-15
ISBN:978 0 539 18359 7
Status:Standard
Popis

BS ISO 14606:2022


This standard BS ISO 14606:2022 Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials is classified in these ICS categories:
  • 71.040.40 Chemical analysis

Tisk