Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS ISO 15625:2014 Silk. Electronic test method for defects and evenness of raw silk
sklademVydáno: 2014-05-31
BS ISO 15625:2014 Silk. Electronic test method for defects and evenness of raw silk

BS ISO 15625:2014

Silk. Electronic test method for defects and evenness of raw silk

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
624.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
1872.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
Označení normy:BS ISO 15625:2014
Počet stran:26
Vydáno:2014-05-31
ISBN:978 0 580 71673 7
Status:Standard
Popis

BS ISO 15625:2014


This standard BS ISO 15625:2014 Silk. Electronic test method for defects and evenness of raw silk is classified in these ICS categories:
  • 59.080.01 Textiles in general

This International Standard specifies a test method for defects and evenness of raw silk by capacitive and optical electronic testers.

This International Standard is applicable to raw silk with the yarn size between 13,3 dtex and 76,7 dtex or 12 denier and 69 denier, whether in skein or on cone, soaked or unsoaked.