Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS ISO 17331:2004+A1:2010 Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Sponsored link
sklademVydáno: 2010-09-30
BS ISO 17331:2004+A1:2010 Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

BS ISO 17331:2004+A1:2010

Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6820 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
682.00 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
2046.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6820 Kč
Označení normy:BS ISO 17331:2004+A1:2010
Počet stran:28
Vydáno:2010-09-30
ISBN:978 0 580 64479 5
Status:Standard
Popis

BS ISO 17331:2004+A1:2010


This standard BS ISO 17331:2004+A1:2010 Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy is classified in these ICS categories:
  • 71.040.40 Chemical analysis

Tisk