Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS ISO 20263:2024 - TC Tracked Changes. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
Sponsored link
sklademVydáno: 2024-11-21
BS ISO 20263:2024 - TC Tracked Changes. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

BS ISO 20263:2024 - TC

Tracked Changes. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
13330 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
13330 Kč
Označení normy:BS ISO 20263:2024 - TC
Počet stran:145
Vydáno:2024-11-21
ISBN:978 0 539 34372 4
Status:Tracked Changes
Popis

BS ISO 20263:2024 - TC


This standard BS ISO 20263:2024 - TC Tracked Changes. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials is classified in these ICS categories:
  • 37.020 Optical equipment
  • 71.040.50 Physicochemical methods of analysis

Tisk