Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS ISO 5618-2:2024 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics). Test method for GaN crystal surface defects Method for determining etch pit density
Sponsored link
sklademVydáno: 2024-05-07
BS ISO 5618-2:2024 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics). Test method for GaN crystal surface defects Method for determining etch pit density

BS ISO 5618-2:2024

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics). Test method for GaN crystal surface defects Method for determining etch pit density

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7998 Kč
Čtěte normu po dobu 1 hodiny. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 1 hodinu
799.80 Kč
Čtěte normu po dobu 24 hodin. Více informací v kategorii E-READING
Čtení normy
na 24 hodin
2399.40 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7998 Kč
Označení normy:BS ISO 5618-2:2024
Počet stran:34
Vydáno:2024-05-07
ISBN:978 0 539 22479 5
Status:Standard
Popis

BS ISO 5618-2:2024


This standard BS ISO 5618-2:2024 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics). Test method for GaN crystal surface defects is classified in these ICS categories:
  • 81.060.30 Advanced ceramics

Tisk