Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>ČSN EN 15991 - Žárovzdorné materiály a výrobky - Přímé stanovení hmotnostních podílů nečistot v práškovém a zrnitém karbidu křemičitém optickou emisní spektroskopií s indukčně vázaným plazmatem (ICP-OES) a s elektrotermickým odpařením (ETV)
Sponsored link
Vydáno: 01.06.2016
ČSN EN 15991 - Žárovzdorné materiály a výrobky - Přímé stanovení hmotnostních podílů nečistot v práškovém a zrnitém karbidu křemičitém optickou emisní spektroskopií s indukčně vázaným plazmatem (ICP-OES) a s elektrotermickým odpařením (ETV)

ČSN EN 15991

Žárovzdorné materiály a výrobky - Přímé stanovení hmotnostních podílů nečistot v práškovém a zrnitém karbidu křemičitém optickou emisní spektroskopií s indukčně vázaným plazmatem (ICP-OES) a s elektrotermickým odpařením (ETV)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Tisk
Skladem
315 Kč
Označení normy:ČSN EN 15991
Třídící znak:726078
Počet stran:28
Vydáno:01.06.2016
Harmonizace:Norma není harmonizována
Katalogové číslo:99537
Popis

ČSN EN 15991

This European Standard defines a method for the determination of the trace element concentrations of Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V and Zr in powdered and granular silicon carbide. Dependent on element, wavelength, plasma conditions and weight, this test method is applicable for mass contents of the above trace contaminations from about 0,1 mg/kg to about 1 000 mg/kg, after evaluation also from 0,001 mg/kg to about 5 000 mg/kg.