ČSN EN IEC 60749-18 ed. 2

Tato norma stanoví zkušební postup na definování požadavků pro zkoušení zapouzdřených polovodičových integrovaných obvodů a diskrétních polovodičových součástek na účinky ionizujícího záření (celkovou dávkou) ze zdroje gama paprsku kobaltu-60 (60Co). Mohou se použít i jiné vhodné zdroje záření. Uvádí čtyři zkoušky, které jsou uvedeny v tomto postupu: a) standardní zkouška ozářením při pokojové teplotě; b) zkouška ozářením při zvýšené/kryogenní teplotě; c) zrychlená zkoušku žíháním; d) rozšířená citlivostní zkouška při nízké intenzitě dávky (ELDRS). Norma je určena pouze pro ustálená záření a nelze ji použít pro pulsní typy záření. Je určena pro vojenské a kosmické účely. Zkoušky podle této normy mohou vytvářet závažné degradace elektrických vlastností ozařovaných součástek, proto jsou tyto zkoušky považovány za destruktivní.