ČSN EN IEC 60891 ed. 3

Tento dokument definuje postupy, které je třeba dodržovat při korekcích teploty a ozáření na naměřené I-V (proudově-napěťové) charakteristiky (známé také jako I-V křivky) fotovoltaických (PV) zařízení. Definuje také postupy používané k určení faktorů důležitých pro tyto korekce. Požadavky na měření I-V fotovoltaických zařízení jsou stanoveny v IEC 60904-1 a jejích příslušných dílčích částech. Fotovoltaická zařízení zahrnují jednotlivé solární články s ochranným krytem nebo bez něj, podsestavu solárních článků nebo modul. Pro každý typ zařízení platí jiný soubor příslušných parametrů pro korekci I-V křivky. Určení teplotních koeficientů pro modul (nebo podsestavu článků) lze vypočítat z měření jednotlivých článků, ale to neplatí pro vnitřní sériový odpor a faktor korekce křivky, které by měly být pro modul nebo podsestavu článků měřeny samostatně. Alternativní postupy pro stanovení sériového odporu jsou uvedeny v příloze A. Použití I-V korekčních parametrů platí pro fotovoltaické zařízení, pro které byly změřeny. V rámci výrobní série nebo typu třídy se mohou vyskytnout odchylky.