Cena s DPH / bez DPH
sklademDatum vydání: 2023-08
DIN 50453-2
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Ätzrate von Ätzmischungen - Teil 2: Siliciumdioxid-Schichten, Optisches Verfahren
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Německy Tisk
Skladem
1233 Kč
Německy PDF
K okamžitému stažení
1233 Kč
| Status: | Norma |
| Datum vydání: | 2023-08 |
| Jazyk: | Německy |
| Označení: | DIN 50453-2 |
| Název produktu: | Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Ätzrate von Ätzmischungen - Teil 2: Siliciumdioxid-Schichten, Optisches Verfahren |
| Počet stran: | 9 |
Popis