Cena s DPH / bez DPH
sklademDatum vydání: 2016-02
DIN EN 15991
Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV)
Prüfung keramischer Roh- und Werkstoffe - Direkte Bestimmung der Massenanteile von Spurenverunreinigungen in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid mittels optischer Emissionsspektroskopie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP OES) und elektrothermischer Verdampfung (ETV)
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Německy Tisk
Skladem
2307 Kč
Německy PDF
K okamžitému stažení
2307 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2882 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2882 Kč
| Status: | Norma |
| Datum vydání: | 2016-02 |
| Označení: | DIN EN 15991 |
| Název produktu: | Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV) |
| Počet stran: | 27 |
Popis