Hlavní stránka>DIN EN 62047-13 Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 13: Biege- und Scherprüfverfahren zur Messung der Haftfestigkeit bei MEMS-Strukturen (IEC 62047-13:2012); Deutsche Fassung EN 62047-13:2012
Sponsored link
sklademDatum vydání: 2012-10
DIN EN 62047-13
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 13: Biege- und Scherprüfverfahren zur Messung der Haftfestigkeit bei MEMS-Strukturen (IEC 62047-13:2012); Deutsche Fassung EN 62047-13:2012
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Německy Tisk
Skladem
2741 Kč
Německy PDF
K okamžitému stažení
2741 Kč
Status:
Norma
Datum vydání:
2012-10
Jazyk:
Německy
Označení:
DIN EN 62047-13
Název produktu:
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 13: Biege- und Scherprüfverfahren zur Messung der Haftfestigkeit bei MEMS-Strukturen (IEC 62047-13:2012); Deutsche Fassung EN 62047-13:2012
