Cena s DPH / bez DPH
sklademDatum vydání: 2012-10
DIN EN 62047-13
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 13: Biege- und Scherprüfverfahren zur Messung der Haftfestigkeit bei MEMS-Strukturen (IEC 62047-13:2012); Deutsche Fassung EN 62047-13:2012
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Německy Tisk
Skladem
2486 Kč
Německy PDF
K okamžitému stažení
2486 Kč
| Status: | Norma |
| Datum vydání: | 2012-10 |
| Jazyk: | Německy |
| Označení: | DIN EN 62047-13 |
| Název produktu: | Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 13: Biege- und Scherprüfverfahren zur Messung der Haftfestigkeit bei MEMS-Strukturen (IEC 62047-13:2012); Deutsche Fassung EN 62047-13:2012 |
| Počet stran: | 17 |
Popis