Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>DIN EN 62047-18 Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe (IEC 62047-18:2013); Deutsche Fassung EN 62047-18:2013
Sponsored link
sklademDatum vydání: 2014-04
DIN EN 62047-18 Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe (IEC 62047-18:2013); Deutsche Fassung EN 62047-18:2013

DIN EN 62047-18

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe (IEC 62047-18:2013); Deutsche Fassung EN 62047-18:2013

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Německy Tisk
Skladem
2698 Kč
Německy PDF
K okamžitému stažení
2698 Kč
Status:Norma
Datum vydání:2014-04
Jazyk:Německy
Označení:DIN EN 62047-18
Název produktu:Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe (IEC 62047-18:2013); Deutsche Fassung EN 62047-18:2013
Počet stran:15
Popis

DIN EN 62047-18