Cena s DPH / bez DPH
sklademDatum vydání: 2024-08
DIN EN IEC 60749-34-1
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (IEC 47/2759/CD:2022); Text in German and English
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34-1: Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule (IEC 47/2759/CD:2022); Text Deutsch und Englisch
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Německy Tisk
Skladem
2666 Kč
Německy PDF
K okamžitému stažení
2666 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2666 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2666 Kč
| Status: | Návrh normy |
| Datum vydání: | 2024-08 |
| Označení: | DIN EN IEC 60749-34-1 |
| Název produktu: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (IEC 47/2759/CD:2022); Text in German and English |
| Počet stran: | 37 |
Popis