Cena s DPH / bez DPH
sklademDatum vydání: 2015-03
DIN SPEC 52407
Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM)
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Německy Tisk
Skladem
1710 Kč
Německy PDF
K okamžitému stažení
1710 Kč
| Status: | TR |
| Datum vydání: | 2015-03 |
| Jazyk: | Německy |
| Označení: | DIN SPEC 52407 |
| Název produktu: | Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM) |
| Počet stran: | 23 |
Popis