Menu
0
Total price
0 €
PRICES include / exclude VAT
Homepage>DIN EN 60749-19 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Chip-Bondfestigkeit (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Deutsche Fassung EN 60749-19:2003 + A1:2010
sklademDatum vydání: 2011-01
DIN EN 60749-19 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Chip-Bondfestigkeit (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Deutsche Fassung EN 60749-19:2003 + A1:2010

DIN EN 60749-19

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Chip-Bondfestigkeit (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Deutsche Fassung EN 60749-19:2003 + A1:2010

Format
Availability
Price and currency
Německy Hardcopy
In stock
58.15 €
Německy PDF
Immediate download
58.15 €
Status:Norma
Datum vydání:2011-01
Jazyk:Německy
Označení:DIN EN 60749-19
Název produktu:Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Chip-Bondfestigkeit (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Deutsche Fassung EN 60749-19:2003 + A1:2010
Počet stran:8
DESCRIPTION

DIN EN 60749-19