PRICES include / exclude VAT
Sponsored link
sklademDatum vydání: 2008-02
DIN EN 62374
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007
Format
Availability
Price and currency
Německy Hardcopy
In stock
123.32 €
Německy PDF
Immediate download
123.32 €
Status: | Norma |
Datum vydání: | 2008-02 |
Jazyk: | Německy |
Označení: | DIN EN 62374 |
Název produktu: | Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007 |
Počet stran: | 24 |
DESCRIPTION