PRICES include / exclude VAT
sklademDatum vydání: 2008-02
DIN EN 62374
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007
Format
Availability
Price and currency
Německy Hardcopy
In stock
109.39 €
Německy PDF
Immediate download
109.39 €
| Status: | Norma |
| Datum vydání: | 2008-02 |
| Jazyk: | Německy |
| Označení: | DIN EN 62374 |
| Název produktu: | Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007 |
| Počet stran: | 24 |
DESCRIPTION