Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Log inSign up
LANGUAGE czen
Menu
ContactSTOREFAQInfobarE-ReadingNews
SEARCH
0
Total price
0 €
PRICES include / exclude VAT
Homepage>IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 - Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Sponsored link
sklademVydáno: 2011-01-27
IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 - Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température

Format
Availability
Price and currency
Anglicky/Francouzsky Hardcopy
skladem
11.36 €
Anglicky/Francouzsky PDF
Immediate download
11.36 €
Označení normy:IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
Vydáno:2011-01-27
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
DESCRIPTION

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011

Print