PRICES include / exclude VAT
sklademVydáno: 2009-09-01
UNE EN 60749-20-1:2009
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by AENOR in September of 2009.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 20-1: Manejo, empaquetado, etiquetado y transporte de los dispositivos con montaje en superficie que son sensibles a los efectos combinados de la humedad y al calentamiento de soldado. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2009.)
Format
Availability
Price and currency
Anglicky PDF
Immediate download
118.78 €
Anglicky Hardcopy
In stock
118.78 €
Označení normy: | UNE EN 60749-20-1:2009 |
Počet stran: | 35 |
Vydáno: | 2009-09-01 |
Status: | Norma |
DESCRIPTION
This standard UNE EN 60749-20-1:2009 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by AENOR in September of 2009.) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
Categories: