PRICES include / exclude VAT
sklademVydáno: 2017-07-01
UNE EN 60749-3:2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2017.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)
Format
Availability
Price and currency
Anglicky PDF
Immediate download
68.95 €
Anglicky Hardcopy
In stock
68.95 €
Označení normy: | UNE EN 60749-3:2017 |
Počet stran: | 21 |
Vydáno: | 2017-07-01 |
Status: | Norma |
DESCRIPTION
This standard UNE EN 60749-3:2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2017.) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
Categories: