UNE EN 60749-44:2016

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de ensayo por efecto de evento único (SEE) mediante haz de neutrones irradiados para dispositivos semiconductores. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)