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sklademVydáno: 2017-08-01
UNE EN 60749-5:2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2017.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)
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| Označení normy: | UNE EN 60749-5:2017 |
| Počet stran: | 19 |
| Vydáno: | 2017-08-01 |
| Status: | Norma |
DESCRIPTION
This standard UNE EN 60749-5:2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2017.) is classified in these ICS categories:
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