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UNE EN 60749-9:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2017.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

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