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sklademVydáno: 2022-07-01
UNE EN IEC 60749-10:2022
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2022.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y submontaje. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2022.)
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| Označení normy: | UNE EN IEC 60749-10:2022 |
| Počet stran: | 20 |
| Vydáno: | 2022-07-01 |
| Status: | Norma |
DESCRIPTION
This standard UNE EN IEC 60749-10:2022 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2022.) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
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