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Homepage>UNE EN IEC 60749-13:2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2018.)
sklademVydáno: 2018-05-01
UNE EN IEC 60749-13:2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2018.)

UNE EN IEC 60749-13:2018

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2018.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)

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Označení normy:UNE EN IEC 60749-13:2018
Počet stran:23
Vydáno:2018-05-01
Status:Norma
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This standard UNE EN IEC 60749-13:2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2018.) is classified in these ICS categories:

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