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Homepage>UNE EN IEC 60749-41:2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2020.)

UNE EN IEC 60749-41:2020

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2020.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de ensayo estándar de fiabilidad de dispositivos de memoria no volátiles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

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Označení normy:	UNE EN IEC 60749-41:2020
Počet stran:	29
Vydáno:	2020-10-01
Status:	Norma

DESCRIPTION

This standard UNE EN IEC 60749-41:2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2020.) is classified in these ICS categories:

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