Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 60512-16-1:2008 - Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 16-1: Mechanical tests on contacts and terminations - Test 16a: Probe damage
Sponsored link
sklademVydáno: 2008-06-11
IEC 60512-16-1:2008 - Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 16-1: Mechanical tests on contacts and terminations - Test 16a: Probe damage

IEC 60512-16-1:2008

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 16-1: Mechanical tests on contacts and terminations - Test 16a: Probe damage

Connecteurs pour équipements électroniques - Essais et mesures - Partie 16-1: Essais mécaniques des contacts et des sorties - Essai 16a: Endommagement par sonde d'essai

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
598 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
598 Kč
Označení normy:IEC 60512-16-1:2008
Vydáno:2008-06-11
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 60512-16-1:2008

IEC 60512-16-1:2008 details a standard test method to assess the effectiveness of the elastic system of contacts to resist damage from the insertion of a specified test probe.

Tisk