Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>IEC 60512-25-3:2001 - Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c - Rise time degradation
sklademVydáno: 2001-07-26
IEC 60512-25-3:2001 - Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c - Rise time degradation

IEC 60512-25-3:2001

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c - Rise time degradation

Connecteurs pour équipements électroniques - Essais et mesures - Partie 25-3: Essai 25c - Dégradation du temps de montée

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
Označení normy:IEC 60512-25-3:2001
Vydáno:2001-07-26
Jazyk:Anglicky/Francouzsky
Popis

IEC 60512-25-3:2001

Describes a method for measuring the effect a specimen has on the rise time of a signal passing through it.